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2025年IEEE 远东无损检测大会（FENET 2025）于2025年7月2日至5日在中国长春举行。会议聚焦机无损检测、机器人、自动化、传感器及智能控制等前沿方向。自动化学院博士研究生陈锐在会议上作题为“Dual-Driven AI for Eddy Current Array-Based Surface Defect Tomography”的学术报告。面向数字驱动的AI算法，容易出现缺陷伪影和量化困难的问题，陈锐系统介绍了团队在物理和数字双驱动的无损检测缺陷重构方面的最新研究进展。

个人简介：陈锐，电子科技大学自动化工程学院仪器科学与技术专业2022级博士研究生，导师为高斌教授。主要研究方向包括电磁无损检测技术、物理AI、深度学习和电磁有限元仿真等。以第一作者身份在IEEE Transactions on Industrial Informatics（IEEE TII）等检测与测量领域国际顶尖期刊，以及IEEE FENDT等国际会议上发表多篇学术论文。