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我校牵头两项国家标准通过审查、一项IEC国际标准完成国内论证
文:余承勇、刘金适、刘璟宜 来源:电子学院 时间:2026-10-08

近日,全国印制电路标准化技术委员会(SAC/TC47)在成都召开国家标准审查会、IEC国际标准国内论证会。会议审查通过了由电子科技大学牵头起草完成的两项国家标准《微波频率下覆铜箔层压板的相对介电常数和介质损耗角正切测试方法 平衡型圆盘谐振器法》《微波频率下覆铜箔层压板的相对介电常数和介质损耗角正切测试方法 分离式圆柱谐振腔法》,论证通过了我校牵头起草的一项IEC国际标准《微波频率下低损耗介电材料的相对介电常数和介质损耗正切测试方法 平行板介质谐振器法》。

会议对两项国家标准和三项IEC国际标准进行了深入审查、论证。会议认为,我校牵头起草的两项国家标准和一项IEC国际标准有利于进一步完善相关领域标准体系、促进相关产业规范发展。

两项国家标准顺利通过审查、一项IEC国际标准完成国内论证,是我校深度参与电子信息领域标准化建设的重要实践,也是学校奋力打造电子信息领域全球人才中心和创新高地取得的又一项阶段性成果。

编辑:杨丽可  /   审核:李果  /   发布:张凤寒